[发明专利]一种小型化无振快速温变试验装置无效
| 申请号： | 201110003740.7 | 申请日： | 2011-01-10 |
| 公开（公告）号： | CN102169066A | 公开（公告）日： | 2011-08-31 |
| 发明（设计）人： | 郭文正;黄腾超;陈侃;舒晓武 | 申请（专利权）人： | 浙江大学 |
| 主分类号： | G01N3/02 | 分类号： | G01N3/02;G01N3/60;H05K7/20 |
| 代理公司： | 杭州求是专利事务所有限公司 33200 | 代理人： | 张法高 |
| 地址： | 310027 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开的一种小型化无振快速温变试验装置。它包括下箱体、上箱体、试验腔体；下箱体包括下绝热隔板、下半导体制冷器固定套件、下水冷台、下支撑螺柱、下大功率半导体制冷器、下双级半导体制冷器、下绝热材料颗粒层和下水管口，上箱体包括上绝热隔板、上半导体制冷器固定套件、上水冷台、上支撑螺柱、上大功率半导体制冷器、上双级半导体制冷器、绝热材料颗粒层和上水管口。本发明控温效果好且不会产生机械振动，在箱体与腔体之间采用绝热隔板密封并填充绝热材料颗粒，既可以加热又可以制冷，温变速率达到30℃/分钟，可广泛应用于光学相干检测领域，尤其是分离振动干扰的高精度温度应力光学相干检测系统。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 小型化 快速 试验装置 | ||
【主权项】：
一种小型化无振快速温变试验装置，其特征在于包括下箱体（1）、上箱体（11）、试验腔体（10）；下箱体（1）包括下绝热隔板（2）、下半导体制冷器固定套件（3）、下水冷台（4）、下支撑螺柱（5）、下大功率半导体制冷器（6）、下双级半导体制冷器（7）、下绝热材料颗粒层（8）和下水管口（9），上箱体（11）包括上绝热隔板（12）、上半导体制冷器固定套件（13）、上水冷台（14）、上支撑螺柱（15）、上大功率半导体制冷器（16）、上双级半导体制冷器（17）、绝热材料颗粒层（18）和上水管口（19）；下箱体（1）内中心从下到上依次设有下支撑螺柱（5）、下水冷台（4）、下半导体制冷器固定套件（3），下半导体制冷器固定套件（3）内从下到上依次设有下大功率半导体制冷器（6）、下双级半导体制冷器（7），在下支撑螺柱（5）、下水冷台（4）周围填充有下绝热材料颗粒层（8），在下半导体制冷器固定套件（3）周围设有下绝热隔板（2）；上箱体（11）内中心从上到下依次设有上支撑螺柱（15）、上水冷台（14）、上半导体制冷器固定套件（13），上半导体制冷器固定套件（13）内从上到下依次设有上大功率半导体制冷器（16）、上双级半导体制冷器（17），在上支撑螺柱（15）、上水冷台（14）周围填充有上绝热材料颗粒层（18），在上半导体制冷器固定套件（13）周围设有上绝热隔板（12）；由下绝热隔板（2）、下半导体制冷器固定套件（3）、下双级半导体制冷器（7）、上绝热隔板（12）、上半导体制冷器固定套件（13）和上双级半导体制冷器（17）围成试验腔体（10）。
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