[发明专利]一种多通道LDMOS及其制备方法有效
申请号: | 201110005812.1 | 申请日: | 2011-01-12 |
公开(公告)号: | CN102097484A | 公开(公告)日: | 2011-06-15 |
发明(设计)人: | 毛焜 | 申请(专利权)人: | 深圳市联德合微电子有限公司 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L29/06;H01L21/336 |
代理公司: | 深圳市顺天达专利商标代理有限公司 44217 | 代理人: | 郭伟刚 |
地址: | 518052 广东省深圳市南*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种多通道LDMOS及其制备方法。一种多通道LDMOS,包括位于衬底1中的源区5、漏区6、栅介质层10、场氧化层11、金属前介质12、漂移区2、衬底阱接触区4、衬底阱7、源极金属8和漏极金属9,所述衬底阱7与所述漂移区2间无间隔,所述漂移区2的导电类型与所述多通道LDMOS的沟道导电类型相同,所述衬底阱7的导电类型与所述多通道LDMOS的沟道导电类型相反,还包括埋层条阵列,所述埋层条阵列包括至少一排横向排布的多个第一埋层条3A,所述埋层条阵列位于所述场氧化层11下方、被所述漂移区2包围且距离所述场氧化层11一段距离,所述第一埋层条3A的导电类型与所述多通道LDMOS的沟道导电类型相反。本发明有效降低了LDMOS晶体管的导通电阻。 | ||
搜索关键词: | 一种 通道 ldmos 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种多通道LDMOS,包括位于衬底(1)中的源区(5)、漏区(6)、栅介质层(10)、场氧化层(11)、金属前介质(12)、漂移区(2)、衬底阱接触区(4)、衬底阱(7)、源极金属(8)和漏极金属(9),所述衬底阱(7)与所述漂移区(2)间无间隔,所述漂移区(2)的导电类型与所述多通道LDMOS的沟道导电类型相同,所述衬底阱(7)的导电类型与所述多通道LDMOS的沟道导电类型相反,其特征在于,还包括埋层条阵列,所述埋层条阵列包括至少一排横向排布的多个第一埋层条(3A),所述埋层条阵列位于所述场氧化层(11)下方、被所述漂移区(2)包围且距离所述场氧化层(11)一段距离,所述第一埋层条(3A)的导电类型与所述多通道LDMOS的沟道导电类型相反。
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