[发明专利]一种闪存芯片的测试方法和闪存芯片有效
| 申请号： | 201110006680.4 | 申请日： | 2011-01-13 |
| 公开（公告）号： | CN102592679A | 公开（公告）日： | 2012-07-18 |
| 发明（设计）人： | 苏志强;舒清明 | 申请（专利权）人： | 北京兆易创新科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/08 | 分类号： | G11C29/08;G11C16/02 |
| 代理公司： | 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 | 代理人： | 苏培华 |
| 地址： | 100084 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种闪存芯片的测试方法，包括：外部测试机台对并行测试的待测芯片发出一个操作指令；待测芯片执行操作指令；待测芯片内部的状态机自动发送操作指令给待测芯片，完成待测芯片的测试。本发明的一种闪存芯片的测试方法，能够减少并行测试的时间。本发明还提供一种闪存芯片。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 闪存 芯片 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种闪存芯片的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：外部测试机台对并行测试的待测芯片发出一个操作指令；待测芯片执行操作指令；待测芯片内部的状态机自动发送操作指令给待测芯片，完成待测芯片的测试。
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