[发明专利]平面控制测量不降等级的测算方法

摘要

本发明的平面控制测量不降等级的测算方法，由以下步骤组成：（1）布点：有已知G（A,B）和S(X,Y)两个点，从已知两点向欲测方向布点1和点2，这四点形成一组测量计算“环”，这四点彼此都要通视，且G1、12、2S、SG、G2、S1中最小长度不小于200米；（2）测量：测站点至目标点平距法：分别用正镜和倒镜测出S2、S1、SG的平距，G1、G2、GS的平距，12、1G的平距，算出正倒镜的平均值；（3）计算、校核：采用卡西欧5800可编程计算器计算1点、2点坐标并校核。本发明的优点：测量速度快、精度高，测完一组点利用计算、校核程序现场几分钟就能计算出控制点坐标。不需往返测量，无附合点同样可以测量。几乎没有误差，不降低控制点等级。

主权项

一种平面控制测量不降等级的测算方法，其特征在于：由以下步骤组成：（1）布点：有已知G（A,B）和S(X,Y)两个点，从已知两点向欲测方向布点1和点2，这四点形成一组测量计算“环”，这四点彼此都要通视，且G1、12、2S、SG、G2、S1中最小长度不小于200米；   然后布3点和4点，同样1、2、3、4四点也形成一组测量计算“环”，对这一组点的要求与第一组点的要求完全相同；以后的布点方法以此类推，布点的多少至满足施工需要为止；（2）测量：测站点至目标点平距法    ①先在S点通过脚架架好全站仪，2、1、G都架好棱镜并使棱镜面对向S，点标志用钢筋刻十字丝为好，以对中整平器对全站仪和棱镜进行精确对中整平；    在常规测量模式下分别用正镜和倒镜测出S2、S1、SG的平距，算出正倒镜的平均值；    ②然后在G点架好全站仪，2、1、S都架好棱镜并使棱镜面对向G，点标志用钢筋刻十字丝为好，以对中整平器对全站仪和棱镜进行精确对中整平；    在常规测量模式下分别用正镜和倒镜测出G1、G2、GS的平距，算出正倒镜的平均值；③在1点架好全站仪，使G点和2点的棱镜面对向1点，在常规测量模式下分别用正镜和倒镜测出12、1G的平距，算出正倒镜的平均值；（3）计算、校核：采用卡西欧5800可编程计算器进行假想计算者站在欲求点1或2，面对两已知点G 、S的连线分左右，左侧已知点坐标用G (A,B)表示，右测已知点坐标用S (X,Y)表示；输入G点的平面坐标(A,B)，输入S点的平面坐标(X,Y), 输入1点右平距即S 1的平均值，输入测站在右边时所测已知基本边SG的平均值，输入1点左平距即G1的平均值，输入测站在左边时所测已知基本边G S的平均值，计算1点坐标；输入2点右平距即S 2的平均值，输入2点左平距即G2的平均值，计算2点坐标；输入在点1测站测的1到2的平均值和1到G的平均值，进行校核；校核误差是不可调误差，误差大于1毫米说明测量数据或计算输入数据有错，需检查原因。