[发明专利]用于测试微间距阵列的探针单元有效
| 申请号： | 201110033221.5 | 申请日： | 2011-01-24 |
| 公开（公告）号： | CN102136234A | 公开（公告）日： | 2011-07-27 |
| 发明（设计）人： | 金宪敏 | 申请（专利权）人： | 寇地斯股份有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00;G01R1/073 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 张欣 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本文公开了用于测试微间距阵列的探针单元，该探针单元在探针片有两行或更多行触点时使各行触点能与测试目标稳定地接触。探针单元包括：探针片，该探针片包括绝缘膜和在绝缘膜上形成的引线图案，其中图案化引线的特定部分构成与测试目标接触且在两行或更多行中形成的触点；紧固探针片的体块；以及设置至体块的按压构件，用于向测试目标按压触点，以使各行触点可分别由按压构件来按压。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 间距 阵列 探针 单元 | ||
【主权项】：
一种用于测试微间距阵列的探针单元，包括：包括绝缘膜和在所述绝缘膜上形成的引线图案的探针片，其中所述图案化引线的特定部分构成与测试目标接触的触点，所述触点在两行或多个行中形成；紧固所述探针片的体块；以及设置至所述体块的按压构件，用于向所述测试目标按压所述触点以使各行触点可分别由所述按压构件来按压。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于寇地斯股份有限公司，未经寇地斯股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201110033221.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
