[发明专利]智能探针卡架构无效
| 申请号： | 201110033281.7 | 申请日： | 2005-04-21 |
| 公开（公告）号： | CN102116779A | 公开（公告）日： | 2011-07-06 |
| 发明（设计）人： | C·A·米勒;M·E·查夫特;R·J·汉森 | 申请（专利权）人： | 佛姆法克特股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/073 | 分类号： | G01R1/073;G01R31/26;G01R31/319 |
| 代理公司： | 上海脱颖律师事务所 31259 | 代理人： | 脱颖 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 提供了一种用于晶片测试系统的探针卡，它具有许多单板特征，能够进行测试系统控制器通道的扇出，以便测试晶片上的多个DUT，同时又限制了扇出对测试结果的不利影响。探针卡的单板特征包括下列一个或多个：(a)DUT信号隔离，这是通过将电阻器与每一个DUT输入串联以隔离出故障的DUT而设置的；(b)DUT电源隔离，这由与每一个DUT电源引脚串联的开关、限流器或调解器来设置，以便隔离对出故障的DUT的电源供给；(c)用单板微控制器或FPGA来设置的自测；(d)作为探针卡一部分而设置的层叠的子卡，用于容纳附加的单板测试电路；以及(e)在探针卡的底部PCB及子卡或测试系统控制器之间接口总线的使用，以使底部PCB和子卡之间或底部PCB和测试系统控制器之间的接口导线的数目达到最小。 | ||
| 搜索关键词： | 智能 探针 架构 | ||
【主权项】：
一种探针卡组件，包括：隔离缓冲器，每一个隔离缓冲器都串联在单个测试器通道和多个测试探针之间，从而提供了测试探针的隔离。
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