[发明专利]检测系统及检测方法

摘要

一种检测系统及检测方法，该检测系统可分别于升温前后施以发光元件顺向或逆向电压并测量其电流，并根据升温前后的电流差值是否大于电流失效判定值而判断此元件是否为失效。另外，检测系统也可在升温前后利用电流施加装置施以发光元件顺向及逆向电流，并测量升温前与升温后的电压差，并根据升温前后的电压差的差值是否大于电压失效判定值而判断此元件是否为失效。此外，检测系统还可分别利用预先检测步骤及快速检测步骤，以检测发光元件是否失效。

主权项

一种检测系统，适于检测发光元件的晶粒品质，包括：电压施加装置，电性连接所述发光元件并施加电压于所述发光元件；电流检测装置，电性连接所述发光元件并测量所述发光元件受所述电压施加装置施加所述电压时所产生的电流；加热装置，用以将所述发光元件由第一温度加热至第二温度，其中当所述发光元件处于所述第一温度时，所述电流检测装置所测量到所述发光元件受所述电压施加装置施加所述电压时所产生的所述电流定义为第一电流，而当所述发光元件处于所述第二温度时，所述电流检测装置所测量到所述发光元件受所述电压施加装置施加所述电压时所产生的所述电流定义为第二电流；以及控制单元，电性连接所述电压施加装置与所述电流检测装置并记录所述第一电流与所述第二电流，其中当所述第二电流与所述第一电流的差值大于电流失效判定值时，所述控制单元判断所述发光元件为失效元件。