[发明专利]光耦合接收元件的检测系统及其方法无效
申请号: | 201110042172.1 | 申请日: | 2011-02-22 |
公开(公告)号: | CN102645611A | 公开(公告)日: | 2012-08-22 |
发明(设计)人: | 陈赐鸿 | 申请(专利权)人: | 长裕欣业股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/04 | 分类号: | G01R31/04 |
代理公司: | 北京汇智英财专利代理事务所 11301 | 代理人: | 潘光兴 |
地址: | 中国台湾新北*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种光耦合接收元件的检测系统及其方法,主要应用于光耦合接收元件于芯片封装后的电性线路检测,实施的初始,预先使待测元件处于不稳定的工作状态,形同一震荡电路,受测时,待测元件内部电路因受驱动而产生震荡,此时,借助检测系统中所建构的一量测模块量测出待测元件震荡后,所产生的震荡波形,此时,进行震荡波形的差异比较,判别出待测元件是否为良品,其是否产生电性线路断线的瑕疵,又,本发明可依据待测元件电性组成的不同,调整检测流程,借此,本发明可提供元件生产端,快速检测光耦合接收元件于芯片封装后,是否产生断线的瑕疵,以缩短检测所需耗费的工时。 | ||
搜索关键词: | 耦合 接收 元件 检测 系统 及其 方法 | ||
【主权项】:
一种光耦合接收元件的检测系统,其特征在于包括:一个检测源产生模块,于运作时,产生一个检测源;一个检测源传递模块,与该检测源为模块链接,以将该检测源传递至一个待测元件上;一个量测模块,常态下,量测该待测元件运作后,产生一个电性参数;以及一个频率检测模块,与该量测模块链接,接收该量测模块所传递的该电性参数,以进行该电性参数的比对。
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