[发明专利]数控机床加工轨迹控制方法

摘要

本发明涉及一种数控机床加工轨迹控制方法，该方法包括以下步骤：确定需要进行平滑处理的位置数N；初始化N个位移量存储单元，并将加工计划中当次运动计划位移量存入当次位移量存储单元；将N个位移量存储单元的平均值作为当次运动实际位移量；循环该过程以完成加工。利用该方法，加工计划中单次运动的位移被分散到N次运动中实现，从而使相近的数次运动之间的位移变化量减小，所加工的自由曲面的拟合度更好，加工表面的光洁度更高，因此该方法可以在无需加长加工文件的情况下，提高自由曲面加工的光洁度，避免数控机床数据处理量的增加，降低相同应用需求情况下的数控机床成本。

主权项

一种数控机床加工轨迹控制方法，其特征在于，所述的方法包括以下步骤：(1)根据加工计划确定需要进行平滑处理的位置数N；(2)初始化N个位移量存储单元，将各位移量存储单元编号为0至N‑1，并指定当次位移量存储单元的编号；(3)根据加工计划计算当次运动计划位移量；(4)将所述的当次运动计划位移量存入当次位移量存储单元；(5)将N个位移量存储单元的平均值作为当次运动实际位移量；(6)重新设定当次位移量存储单元的编号；(7)判断加工计划是否执行完毕，若是，则进入步骤(8)，若否，则返回步骤(3)；(8)判断是否存在残留位移，若是，则进入步骤(9)，若否，则进入步骤(10)；(9)将当次运动的位移量设定为0，并返回步骤(4)；(10)结束本方法。