[发明专利]一种可铜线键接的封装体结构及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201110050405.2 申请日: 2011-02-24
公开(公告)号: CN102651360A 公开(公告)日: 2012-08-29
发明(设计)人: 薛彦迅;鲁军;安荷·叭剌 申请(专利权)人: 万国半导体股份有限公司
主分类号: H01L23/495 分类号: H01L23/495;H01L23/31;H01L21/60;H01L21/56
代理公司: 上海信好专利代理事务所(普通合伙) 31249 代理人: 张静洁;徐雯琼
地址: 美国加利福尼亚940*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 一种可铜线键接的封装体结构及其制作方法,包含引线框架,其设置有若干载片台,和延伸至所述封装体结构外的若干引脚,以及若干加强筋,其连接相邻的所述载片台;每对相邻载片台之间连接有至少一个所述加强筋;若干半导体芯片,对应设置在所述若干载片台上;在所述芯片之间,或所述芯片与所述引脚之间,或所述芯片与所述载片台之间,通过铜线键接形成电气连接。在优选例中,由于通过半腐蚀引线框架,形成了与第一、第二载片台一体的,用于连接第一、第二载片台的至少一个加强筋;在封装完成前,都能有效增强引线框架的整体强度。因而,该引线框架的强度,足以支持在芯片与载片台之间、芯片与引脚之间使用铜线键接,有效提高产品质量和生产效率。
搜索关键词: 一种 铜线 封装 结构 及其 制作方法
【主权项】:
一种可铜线键接的封装体结构,其特征在于,包含:引线框架(10),其设置有若干载片台,和延伸至所述封装体结构外的若干引脚,以及若干加强筋(20),其连接相邻的所述载片台;每对相邻载片台之间连接有至少一个所述加强筋(20);若干半导体芯片,对应设置在所述若干载片台上;在所述芯片之间,或所述芯片与所述引脚之间,或所述芯片与所述载片台之间,通过铜线(50)键接形成电气连接。
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