[发明专利]用于测量干涉仪热漂移系数的温控箱、测量系统和方法无效

专利信息
申请号: 201110053279.6 申请日: 2011-03-07
公开(公告)号: CN102679865A 公开(公告)日: 2012-09-19
发明(设计)人: 王珍媛;张志平;吴萍;张晓文;池峰 申请(专利权)人: 上海微电子装备有限公司
主分类号: G01B9/02 分类号: G01B9/02
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 屈蘅;李时云
地址: 201203 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种用于测量干涉仪热漂移系数的温控箱、干涉仪热漂移系数的测量系统和干涉仪热漂移系数的测量方法,所述用于测量干涉仪热漂移系数的温控箱,包括:箱体、加热装置、用于承载干涉仪的微晶玻璃和测量反射镜,所述箱体上设置有视窗,所述加热装置、微晶玻璃和测量反射镜置于所述箱体内,所述微晶玻璃靠近所述视窗,所述干涉仪置于所述微晶玻璃的靠近所述视窗的一端,所述测量反射镜置于所述微晶玻璃上并且与所述干涉仪出光面贴合。达到了精确、方便地得到干涉仪热漂移系数η的目的。
搜索关键词: 用于 测量 干涉仪 漂移 系数 温控 系统 方法
【主权项】:
一种用于测量干涉仪热漂移系数的温控箱,其特征在于,包括:箱体、加热装置、用于承载干涉仪的微晶玻璃和测量反射镜,所述箱体上设置有视窗,所述加热装置、微晶玻璃和测量反射镜置于所述箱体内,所述微晶玻璃靠近所述视窗,所述干涉仪置于所述微晶玻璃的靠近所述视窗的一端,所述测量反射镜置于所述微晶玻璃上并且与所述干涉仪出光面贴合。
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