[发明专利]进行采样相位设定的主控制器、半导体装置以及方法无效
| 申请号： | 201110067685.8 | 申请日： | 2011-03-21 |
| 公开（公告）号： | CN102385912A | 公开（公告）日： | 2012-03-21 |
| 发明（设计）人： | 村山正佳 | 申请（专利权）人： | 株式会社东芝 |
| 主分类号： | G11C11/4093 | 分类号： | G11C11/4093 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 王成坤;胡建新 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种进行采样相位设定的主控制器、半导体装置以及方法。主控制器在VDS模式以及FDS模式下进行接收数据的采样，该主控制器包括：保持VDS时的相位偏移量的VDS相位寄存器；保持FDS时的相位偏移量的FDS相位寄存器；表示以VDS和FDS哪个模式进行数据采样的模式设定部；依照上述模式设定部的设定值，选择在上述VDS以及FDS相位设定寄存器中的一方所设定的相位偏移量，并作为采样位置进行提供的采样位置设定部；以及依照上述偏移量，偏移输入时钟信号的相位并作为采样时钟进行提供的时钟相位偏移部。 | ||
| 搜索关键词： | 进行 采样 相位 设定 主控 半导体 装置 以及 方法 | ||
【主权项】：
一种进行接收数据的采样的主控制器，其特征在于，包括：保持可变数据采样(VDS)时的相位偏移量的VDS相位寄存器；保持固定数据采样(FDS)时的相位偏移量的FDS相位寄存器；表示以VDS和FDS中的哪个模式进行数据采样的模式设定部；根据上述模式设定部的设定值，选择在上述VDS相位寄存器以及FDS相位寄存器中的一方所设定的相位偏移量，并作为采样位置进行提供的采样位置设定部；以及根据从上述采样位置设定部所提供的偏移量，使输入时钟信号的相位偏移并作为采样时钟进行提供的时钟相位偏移部。
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