[发明专利]校正采样相位的主控制器、半导体装置及其校正方法

摘要

本发明提供一种校正采样相位的主控制器、半导体装置及其校正方法。该主控制器在对所接收的信号进行采样时对采样时钟进行相位偏移校正，其具有：判定是否需要上述采样时钟的相位偏移，需要相位偏移的情况下按照偏移方向对计数器进行增/减计数的相位偏移判定部；储存上述相位偏移的变动范围限制值的限制值储存部；以及判定上述计数值是否超过了上述相位偏移的限制值，超过的情况下通知错误，没有超过的情况下按照上述计数器的计数值，使上述采样时钟的相位偏移的偏移限制判定部。

主权项

一种主控制器，在对信号进行采样时对采样时钟进行相位偏移校正，其特征在于，具有：相位偏移判断部，判断是否需要上述采样时钟的相位偏移，需要相位偏移的情况下，按照偏移方向对计数器进行增/减计数；限制值储存部，储存上述相位偏移的变动范围限制值；以及偏移限制判断部，判断上述计数值是否超过了上述相位偏移的限制值，超过的情况下向主机装置通知错误，没有超过的情况下按照上述计数器的计数值，使上述采样时钟的相位偏移。