[发明专利]探测单元相对平行度调整装置无效
申请号: | 201110079496.2 | 申请日: | 2011-03-23 |
公开(公告)号: | CN102280518A | 公开(公告)日: | 2011-12-14 |
发明(设计)人: | 宇田隆;池谷武久;町田洋 | 申请(专利权)人: | 日本麦可罗尼克斯股份有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;G01R31/26;G01R31/02;G05D3/00 |
代理公司: | 上海市华诚律师事务所 31210 | 代理人: | 徐申民 |
地址: | 日本国东京都武藏*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供了一种探测单元相对平行度调整装置,其能够在短时间内确认探测单元相对于在带状电极的宽度方向并列设置有带状电极的板构件是否平行,并在短时间内对其平行度进行调整。本发明的探测单元相对平行度调整装置包括:对探测单元相对于板构件的平行度进行调整的倾斜度调整机构;检测探测单元和板构件之间的距离的多个传感器;传感器输出取得单元,其取得探针和带状电极相对接近并接触前后的来自各传感器的输出;调整参照信息形成单元,其根据取得的各传感器的输出,形成在探测单元的平行度调整中所参照的信息。 | ||
搜索关键词: | 探测 单元 相对 平行 调整 装置 | ||
【主权项】:
一种探测单元相对平行度调整装置,其能够调整探测单元相对于板构件的相对平行度,在所述板构件上设置有沿带状电极的宽度方向并列设置的多个所述带状电极,在所述探测单元上设有下降时与所述各带状电极接触的探针,所述探测单元相对平行度调整装置的特征在于,包括:对所述探测单元相对于所述板构件的平行度进行调整的倾斜度调整机构;检测部位不同的多个传感器,其至少能够检测所述探测单元和所述板构件之间的距离;传感器输出取得单元,其取得从所述探针和所述带状电极之间从非接触状态开始到相对地接近并接触为止的位置变化期间中至少接触前后的来自所述各传感器的输出;和调整参照信息形成单元,其根据所述传感器输出取得单元所取得的所述各传感器的输出,形成在所述探测单元的平行度调整中所参照的信息。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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