[发明专利]一种降低光纤双折射影响的光纤干涉测量系统无效
| 申请号： | 201110088178.2 | 申请日： | 2011-04-06 |
| 公开（公告）号： | CN102401670A | 公开（公告）日： | 2012-04-04 |
| 发明（设计）人： | 王涛 | 申请（专利权）人： | 杭州安远科技有限公司 |
| 主分类号： | G01D21/00 | 分类号： | G01D21/00;G01H9/00;G01K11/32;G01B9/02;G02B27/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 310052 浙江省杭州市*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 一种降低光纤双折射影响的光纤干涉测量系统，激光由激光器发射，通过光源光纤传输至光纤耦合器，激光通过耦合器分光，分别输出到光纤干涉测量系统的测量臂和参考臂，其中一路光经过测量臂光纤去偏器、测量臂光纤入射到测量臂光反射装置，被反射后经原路返回到光纤耦合器；另一路光经过参考臂光纤去偏器、参考臂光纤入射到参考臂光反射装置，被反射后由原路返回到光纤耦合器，两路反射光在耦合器形成干涉光信号，该信号经过探测器光纤被光电探测器接收成为干涉信号，干涉信号经信号传输线传输至运算处理系统得出外界物理量信号的大小。本发明一种用于测量振动等外界物理量的光纤干涉测量系统，消除普通光纤干涉测量系统中偏振态随机变化对光纤干涉测量系统信号的影响。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 降低 光纤 双折射 影响 干涉 测量 系统 | ||
【主权项】：
一种降低光纤双折射影响的光纤干涉测量系统，其特征是：激光由激光器发射，通过光源光纤传输至光纤耦合器，激光通过光纤耦合器分光，分别输出到光纤干涉测量系统的测量臂和参考臂，其中一路光经过测量臂光纤去偏器、测量臂光纤入射到测量臂光反射装置，被反射后经原路返回到光纤耦合器；另一路光经过参考臂光纤去偏器、参考臂光纤入射到参考臂光反射装置，被反射后由原路返回到光纤耦合器，两路反射光在光纤耦合器形成干涉光信号，该信号经过探测器光纤被光电探测器接收成为干涉信号，干涉信号经信号传输线传输至运算处理系统得出外界物理量信号的大小。
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