[发明专利]测定熔敷金属化学成分的方法无效
申请号: | 201110096586.2 | 申请日: | 2011-04-18 |
公开(公告)号: | CN102253067A | 公开(公告)日: | 2011-11-23 |
发明(设计)人: | 魏艳;吴浩 | 申请(专利权)人: | 武汉铁锚焊接材料股份有限公司 |
主分类号: | G01N23/223 | 分类号: | G01N23/223;G01N1/32 |
代理公司: | 北京汇泽知识产权代理有限公司 11228 | 代理人: | 黄挺 |
地址: | 430084 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明公开了一种X-射线荧光光谱法测定熔敷金属化学成分的方法,包括以下步骤:1)绘制工作曲线;2)熔敷金属试样的制备;3)熔敷金属试样中元素含量的测定。本发明具有分析速度快、操作简单、测量数据准确度高的特点,该方法的应用拓宽了荧光分析的应用范围,同时可以避免由于传统化学分析产生的废弃物的排放,减少环境污染,达到了节能减排的目的,具有明显的社会效益。 | ||
搜索关键词: | 测定 金属 化学成分 方法 | ||
【主权项】:
一种测定熔敷金属化学成分的方法,其特征在于,步骤包括:1)绘制工作曲线:选择GSB03‑1063‑1999热模具钢、38CrMoAl、CrMnTi、CrNiW和碳工钢作为标准样品,将所述标准样品分析面的表面抛光后,采用X‑射线荧光光谱仪测定所述标准样品中各元素分析线的净强度,测量条件为电流电压为24KV/100mA,真空光路,体积比为9:1的Ar‑CH4混合气体,绘制净强度对元素含量的工作曲线;2)熔敷金属试样的制备:取焊缝熔敷金属试样,其分析面打磨,去皮,至表面纹理清晰,用酒精棉擦拭干净;3)熔敷金属试样中元素含量的测定:以X‑射线荧光光谱仪测定熔敷金属试样各元素的净强度,熔敷金属试样分析面的长宽中心位于焊缝表面中心,测量条件为电流电压为24KV/100mA,真空光路,体积比为9:1的Ar‑CH4混合气体,根据工作曲线计算各元素在熔敷金属试样中的含量。
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