[发明专利]半导体封装结构及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201110106224.7 申请日: 2011-04-18
公开(公告)号: CN102655097A 公开(公告)日: 2012-09-05
发明(设计)人: 卓恩民 申请(专利权)人: 群成科技股份有限公司
主分类号: H01L21/50 分类号: H01L21/50;H01L21/56;H01L23/31;H01L23/367;H01L23/552
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 喻学兵
地址: 中国台湾新竹县湖*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明是一种半导体封装结构及其制造方法。该半导体封装结构包括一芯片封装体与一重配线基板,该重配线基板设置于芯片封装体下,并与其电性连接。其中芯片封装体包括:具有一开口的一金属层;设置于开口上的一芯片,芯片的一背面与金属层的一上表面是朝向同一方向;以及一封胶体,覆盖芯片的背面与金属层的上表面,且使芯片的一主动面与部分金属层暴露于封胶体外,以让重配线基板与芯片电性连接。本发明利用对芯片先封装再与重配线基板结合,且芯片封装体内设有金属层位于与基板的接合面,可增加芯片封装体与基板之间的接合力以提高工艺良率。
搜索关键词: 半导体 封装 结构 及其 制造 方法
【主权项】:
一种半导体封装结构的制造方法,其特征在于包含下列步骤:形成一芯片封装体,其步骤包含:提供一载板;形成一第一金属层形成于该载板的一上表面;形成至少一开口于该第一金属层上,以露出部分该载板的该上表面;设置一芯片于露出的部分该载板上,其中该芯片的一有源面是朝向该载板;形成一封胶体覆盖该芯片与该第一金属层;以及移除该载板以露出该芯片的该有源面及该第一金属层;以及提供一重配线基板于该芯片封装体下方,并使该重配线基板与该芯片的该有源面电性连接。
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