[发明专利]基于Etalon的激光波长/频率的测量方法、波长计及使用方法无效
申请号: | 201110121073.2 | 申请日: | 2011-05-11 |
公开(公告)号: | CN102778298A | 公开(公告)日: | 2012-11-14 |
发明(设计)人: | 李严;赵克 | 申请(专利权)人: | 桂林优西科学仪器有限责任公司 |
主分类号: | G01J9/00 | 分类号: | G01J9/00;G01M11/02;H04B10/08 |
代理公司: | 桂林市持衡专利商标事务所有限公司 45107 | 代理人: | 欧阳波 |
地址: | 541004 广西*** | 国省代码: | 广西;45 |
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摘要: | 本发明为基于Etalon的激光波长/频率的测量方法、波长计及使用方法。本测量方法为Etalon折射率n、表面间距l和入射角度θ中的1个或2个参数固定、改变另外2个或1个参数,得到N种不同的Etalon,使用标准激光器扫描得到N组不同传输效率数据,并以此建立校准表。测定待测激光对应N种Etalon的传输效率值,与数据校准表进行比较,计算得到待测激光波长。本波长计将输入激光进行分光,N路光束准直后各经N种Etalon进入PD,参考光直接进入PD,各PD再接入计算机。其使用方法为,装配后使用标准激光器扫描生成传输效率数据校准表并存储,计算机比较计算待测激光传输效率后直接显示结果。本发明可以实现高精度、高速测量C+L波段激光波长,其波长计结构简单、成本低。 | ||
搜索关键词: | 基于 etalon 激光 波长 频率 测量方法 使用方法 | ||
【主权项】:
基于Etalon的激光的波长/频率的测量方法,选用具有两个平行的反射表面的Etalon,其主要参数为振幅反射系数r、折射率n、厚度l和入射角度θ,其特征在于:所述Etalon参数振幅反射系数r保持不变,n、l和θ中的1个或2个参数保持固定、而改变另外2个或1个参数,得到具有N种不同的参数组的Etalon,N为4~6的整数,在测量频率范围内,使用标准可调谐激光器以一定步长Δf扫描上述N种Etalon,测量不同频率激光在不同的参数组Etalon上的传输效率,得到N条不同传输效率的频率响应曲线,同时建立相应的传输效率数据校准表,再用上述的N种参数组的Etalon测定待测的输入激光的传输效率,得到待测激光的N组传输效率数据值,通过与上述传输效率数据校准表的对比,计算得到相应的待测输入激光的波长。
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