[发明专利]一种用于X射线荧光光谱分析硅铁合金成分的分析方法无效
| 申请号： | 201110131226.1 | 申请日： | 2011-05-19 |
| 公开（公告）号： | CN102156142A | 公开（公告）日： | 2011-08-17 |
| 发明（设计）人： | 宋祖峰;程坚平;牟新玉 | 申请（专利权）人： | 马鞍山钢铁股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223;G01N1/28 |
| 代理公司： | 芜湖安汇知识产权代理有限公司 34107 | 代理人： | 张小虹 |
| 地址： | 243003 安徽省马*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于X射线荧光光谱分析硅铁合金成分的分析方法，其中的制样方法为：选择合适的氧化剂；在铂金坩埚中加熔剂，将铂金坩埚放入高温炉中，熔剂高温熔融，制成熔剂打底挂壁的熔剂坩埚；将硅铁合金测试样品、熔剂和氧化剂混合后，倒入熔剂坩埚中，上面覆盖一定量的混合熔剂；将装有硅铁合金测试样品、熔剂、氧化剂和混合熔剂的熔剂坩埚放入高温炉中，先在低温下预氧化，然后移入高温区，高温熔融制成用于X射线荧光光谱分析的硅铁合金测试样品玻璃样片。上述技术方案使得制成的玻璃样片中元素分布均匀，无颗粒效应，可长期保存；操作方法简单、安全、样片制备时间短，实现了同时进行硅铁合金中主次量元素的快速准确的测定。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 射线 荧光 光谱分析 铁合金 成分 分析 方法 | ||
【主权项】：
一种用于X射线荧光光谱分析硅铁合金成分的分析方法，所述的分析方法包括硅铁合金测试样品的制样方法，其特征在于：所述的制样方法包括以下步骤：1)、选择过氧化钡作为氧化剂；2)、在铂金坩埚中加四硼酸锂作熔剂，将铂金坩埚放入高温炉中，熔剂高温熔融，制成熔剂打底挂壁的熔剂坩埚；3)、将硅铁合金测试样品、熔剂和氧化剂混合后，倒入已打底挂壁的熔剂坩埚中，上面覆盖一定量的混合熔剂，所述的混合熔剂中的含量按质量百分比为33％四硼酸锂和67％偏硼酸锂；4)、将装有所述的硅铁合金测试样品、熔剂、氧化剂和混合熔剂的熔剂坩埚放入高温炉中，先在低温下预氧化，然后移入高温区，高温熔融制成用于X射线荧光光谱分析的硅铁合金测试样品玻璃样片。
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