[发明专利]具有频率产生电路的集成电路有效
| 申请号： | 201110133751.7 | 申请日： | 2011-05-18 |
| 公开（公告）号： | CN102355259A | 公开（公告）日： | 2012-02-15 |
| 发明（设计）人： | 弗朗索瓦丝·勒菲弗 | 申请（专利权）人： | NXP股份有限公司 |
| 主分类号： | H03L7/18 | 分类号： | H03L7/18;H03L7/099 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 王波波 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 本发明提供了一种至少包括第一和第二频率产生电路的集成电路，其中，每个频率产生电路包括：基准频率源；压控振荡器；以及反馈控制电路，用于控制压控振荡器以提供期望的输出频率信号。将第一频率产生电路的压控振荡器的输出切换到第二频率产生电路的反馈控制电路中，以提供用于测试第二频率产生电路的反馈控制电路的一个或多个组件的测试信号。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 频率 产生 电路 集成电路 | ||
【主权项】：
一种至少包括第一和第二频率产生电路(50a，50b)的集成电路，其中，每个频率产生电路包括：基准频率源(10a，10b)；压控振荡器(14a，14b)；以及反馈控制电路(12a，16a，18a；12b，16b，18b)，用于控制压控振荡器(14a，14b)以提供期望的输出频率信号，其中，所述集成电路包括：开关装置，用于将第一频率产生电路(50a)的压控振荡器(14a)的输出切换到第二频率产生电路(50b)的反馈控制电路(12b，16b，18b)中，以提供用于测试第二频率产生电路(50b)的反馈控制电路的一个或多个组件的测试信号。
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