[发明专利]半导体集成电路的引线框架一次电镀工艺有效

专利信息
申请号: 201110134379.1 申请日: 2011-05-24
公开(公告)号: CN102181895A 公开(公告)日: 2011-09-14
发明(设计)人: 王锋涛;林桂贤;苏月来;李南生;罗壮 申请(专利权)人: 厦门永红科技有限公司
主分类号: C25D5/08 分类号: C25D5/08;C25D5/02;C25D7/00
代理公司: 厦门市诚得知识产权代理事务所 35209 代理人: 方惠春;戚东升
地址: 361100 福建省厦*** 国省代码: 福建;35
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开一种半导体集成电路的引线框架一次性电镀工艺,将引线框架的各电镀单元区正对着镀头的各喷孔通电进行电镀作业,镀头内包含有喷射流道及回液流道,喷射流道的喷孔对应着引线框架的电镀单元中心区,电镀余液通过回液流道进行回收,且回液流道与喷射流道组成电镀回路一次性完成引线框架多排电镀作业。本发明工艺适用于多排化引线框架电镀作业,具有效率高、镀层均匀、电镀质量高等优点。
搜索关键词: 半导体 集成电路 引线 框架 一次 电镀 工艺
【主权项】:
一种半导体集成电路的引线框架一次电镀工艺,其特征在于:将引线框架的各电镀单元区正对着镀头的各喷孔通电进行电镀作业,镀头内包含有喷射流道及回液流道,喷射流道的喷孔对应着引线框架的电镀单元中心区,电镀余液通过回液流道进行回收,且回液流道与喷射流道组成电镀回路一次性完成引线框架多排电镀作业。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于厦门永红科技有限公司,未经厦门永红科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201110134379.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top