[发明专利]基于EML激光器的长距XFP模块核心参数调试方法有效
申请号: | 201110142982.4 | 申请日: | 2011-05-31 |
公开(公告)号: | CN102215063A | 公开(公告)日: | 2011-10-12 |
发明(设计)人: | 郑晓锋;胡朝阳;彭奇;程锦 | 申请(专利权)人: | 索尔思光电(成都)有限公司 |
主分类号: | H04B10/08 | 分类号: | H04B10/08 |
代理公司: | 四川力久律师事务所 51221 | 代理人: | 林辉轮;王芸 |
地址: | 610000 四川省成都市高新区西*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于EML激光器的长距XFP模块核心参数调试方法。所述调试方法包括配对、初始化、常温调试、高温调试、模块校准、通道代价测试、最终化处理和EEPROM检查、以及高温测试、该调试方法将EA优化算法加入到常温调试,使得模块在满足光功率、眼图模块裕量、偏置电流等关键参数的前提下,找到最有利通道代价的最优EA值。 | ||
搜索关键词: | 基于 eml 激光器 xfp 模块 核心 参数 调试 方法 | ||
【主权项】:
一种基于EML激光器的长距XFP模块核心参数调试方法,包括:步骤1:将光发射组件和光吸收组件的序列号记录在数据库中并下载固件;步骤2:通过I2C对模块的各项参数进行初始化;步骤3:常温调试:在20℃‑30℃的常温下调试模块的各项参数;步骤4:高温调试:在70℃‑85℃高温下调试模块的各项参数;步骤5:模块校准;步骤6:通道代价测试;步骤7:最终化处理和EEPROM 检查;步骤8:高温测试:在70℃‑85℃高温下测试模块的各项参数。
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