[发明专利]X射线检测仪校正元件、校正方法及量测方法无效
| 申请号： | 201110179270.X | 申请日： | 2011-06-29 |
| 公开（公告）号： | CN102853790A | 公开（公告）日： | 2013-01-02 |
| 发明（设计）人： | 马文峰;吴宗佑 | 申请（专利权）人： | 富葵精密组件(深圳)有限公司;臻鼎科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B15/00 | 分类号： | G01B15/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518103 广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种校正元件，用于对X射线检测仪在量测焊点中气泡的面积比时的校正，所述校正元件包括多个具有预知横截面面积的校正片，每个所述校正片上均设置有至少一个具有预知横截面面积的贯通的校正孔，各所述校正片上校正孔的横截面面积与校正孔和校正片的横截面面积之和的比值整体呈梯度设置。本发明还涉及使用所述校正元件对X射线检测仪进行校正的校正方法及利用X射线检测仪量测焊点中气泡的面积比的量测方法。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 检测 校正 元件 方法 | ||
【主权项】：
一种校正元件，用于对X射线检测仪在量测焊点中气泡的面积比时的校正，所述校正元件包括多个具有预知横截面面积的校正片，每个所述校正片上均设置有至少一个具有预知横截面面积的贯通的校正孔，各所述校正片上校正孔的横截面面积与校正孔和校正片的横截面面积之和的比值整体呈梯度设置。
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