[发明专利]中子织构衍射仪测控方法及系统

摘要

本发明涉及中子织构谱仪的自动化测量技术，具体涉及一种中子织构衍射仪测控方法及系统。该方法首先通过监视束流的稳定性，为探测器计数的测量模式提供依据；然后扫描样品的衍射谱，并查看晶面的衍射峰及其孤立程度，为选择衍射角提供依据，然后将全部感兴趣的晶面极图测量参数一次性输入计算机，通过自动测量得到织构的全部信息；最后，如果发现效果不好的数据点，则重新测量并自动替换原来的数据。本发明从整体上考虑了当前软件的不足，针对当前的问题设计了详细可行的技术方案，该技术方案具有可实施性，能够准确高效自动化的测量材料的织构，并最大程度的提高测量精度。

主权项

一种中子织构衍射仪测控方法，包括如下步骤：(1)通过监视器连续记录一段时间内的中子数，以查看中子束流的稳定性，根据中子束流的稳定性确定探测器计数的测量模式；(2)使用中子织构衍射仪扫描样品的衍射谱，并查看晶面的衍射峰及其孤立程度，将孤立的衍射峰对应的晶面作为极图测量的对象，并将所确定的各个晶面的极图测量参数一次性输入计算机；(3)针对每个待测量的晶面极图，测量其衍射角对应的中子计数，以及衍射角两侧本底对应的中子计数。