[发明专利]一种光学平面基片的制作方法无效

专利信息
申请号: 201110181189.5 申请日: 2011-06-29
公开(公告)号: CN102928893A 公开(公告)日: 2013-02-13
发明(设计)人: 方亚琴;蒋菊生 申请(专利权)人: 蒋菊生
主分类号: G02B1/10 分类号: G02B1/10;B24B37/04;B24B29/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215552 江苏省常熟*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明属于光学仪器及配件技术领域,尤其是涉及一种光学平面基片的制作方法;其特征在于它包含有依次进行的以下步骤:选取原材料、预成型、仿形、研磨、抛光、清洗、检验。本发明采用物理与化学结合的方式制作光学平面基片,工序大部分采用机器进行,人工参与的很少;因此,本发明具有以下有益效果:光学平面基片制作时间短、产品间的差异小、适合于工业大规模应用、效率高,所制作的平面基片平面度、平行度、粗糙度参数好。
搜索关键词: 一种 光学 平面 制作方法
【主权项】:
一种光学平面基片的制作方法,其特征在于它包含有依次进行的以下步骤:第一步:选取原材料:选取厚度为0.1mm~1.0mm的基片母板;第二步:预成型:采用划片机在基片母板上划下所需大小的基片毛坯;第三步:仿形:采用芯取机,对基片毛坯进行芯取达到预期轮廓的芯取片;第四步:研磨:采用球面研磨机或双面研磨机将芯取片进行研磨,研磨是在百级洁净室内进行的,温度为20℃~28℃;研磨是在研磨油中进行的,研磨完成形成研磨片;第五步:抛光:采用环抛机对研磨片的表面进行抛光;抛光是在抛光液中进行的,抛光时间为3分钟到10分钟,抛光温度为32℃~40℃,抛光压力150~250g/cm2;抛光完成形成抛光片;第六步:清洗:采用超声波清洗机对抛光片进行清洗,清洗并干燥完成得到清洗片;第七步:检验:对清洗片进行粗糙度、平行度、平面度、厚度、表面裂纹、透光度检验,挑选出全部合格的即形成了光学平面基片。
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