[发明专利]一种适应温度压强变化的气体幅射谱不变特征提取方法有效
申请号: | 201110181499.7 | 申请日: | 2011-06-30 |
公开(公告)号: | CN102346129A | 公开(公告)日: | 2012-02-08 |
发明(设计)人: | 张天序;郑珍珠;方正;张伟;杨卫东;颜露新;徐利成;王娟;付平 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
主分类号: | G01N21/25 | 分类号: | G01N21/25 |
代理公司: | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人: | 李智 |
地址: | 430074 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明提供一种基于幅射谱特征提取的气体目标识别方法,对气体目标谱采用一维曲率尺度空间描述方法生成指纹图,提取指纹图的指纹特征即拱形顶点的位置,以指纹特征最接近作为基准进行目标匹配识别。本发明提取不受温度和压强影响的幅射谱内蕴的稳定特征,具有抗条件变化的鲁棒性和优良区分能力,为复杂条件下基于谱的待识别提供支撑。 | ||
搜索关键词: | 一种 适应 温度 压强 变化 气体 幅射 不变 特征 提取 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于幅射谱特征提取的气体目标识别方法,涉及用以匹配的指纹图库,谱指纹图库包含对多个参考谱分别采用一维曲率尺度空间描述方法生成的指纹图,该方法具体为:(1)对气体目标谱采用一维曲率尺度空间描述方法生成指纹图;(2)分别提取目标谱指纹图和指纹图库中所有参考谱指纹图的指纹特征,所述指纹特征为指纹图中拱形顶点的二维坐标值;(3)更新参考谱指纹图Ri的所有拱形顶点的Y轴坐标值为其与高度修正参数ki的乘积,其中,
i=1,2…,N,N为参考谱总数,
为第i个参考谱指纹图的拱形顶点中最大的Y轴坐标值,
为目标谱指纹图的拱形顶点中最大的Y轴坐标值;(4)在步骤(3)更新后的参考谱指纹图中,以拱形顶点位置最接近为标准搜寻与目标谱指纹图最匹配的参考谱指纹图Rm,并记录Rm的各拱形顶点分别与其在目标谱指纹图对应的拱形顶点的二维坐标值差异,对得到的二维坐标值差异求和得到匹配代价:(5)若步骤(4)计算得到的匹配代价小于判别阈值,则判定气体目标为R对应的气体。
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