[发明专利]阵列测试装置无效
| 申请号： | 201110184854.6 | 申请日： | 2011-07-04 |
| 公开（公告）号： | CN102540509A | 公开（公告）日： | 2012-07-04 |
| 发明（设计）人： | 朴廷喜 | 申请（专利权）人： | 塔工程有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;G01R1/073 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人： | 张文;郭放 |
| 地址： | 韩国庆*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本发明公开一种阵列测试装置，包括设置有探针引脚的探针棒。所述阵列测试装置构造为使得选择性地将电信号施加给探针引脚之中的与形成在玻璃面板上的电极的布置方式相对应的一些探针引脚。因此，所述阵列测试装置可以有效地测试电极的位置和布置类型有所不同的不同种类的玻璃面板。 | ||
| 搜索关键词： | 阵列 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种具有探针组件的阵列测试装置，所述探针组件包括：探针棒，所述探针棒配备有设置在所述探针棒上的多个探针引脚；以及电信号施加单元，所述电信号施加单元选择性地将电信号施加给与玻璃面板上的电极的布置方式相对应的探针引脚。
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