[发明专利]半导体集成电路无效

专利信息
申请号: 201110199616.2 申请日: 2008-05-16
公开(公告)号: CN102263106A 公开(公告)日: 2011-11-30
发明(设计)人: 野间崎大辅;冈浩二;尾关俊明 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: H01L27/08 分类号: H01L27/08;H01L23/522;H03L7/093
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 张丽
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明的半导体集成电路上搭载多个具有梳状电容(10)的模拟宏,梳状电容(10)具有梳状电极(11)及电极(12),电极(11)的梳齿部(13)与电极(12)的梳齿部(14)相咬合而形成,结果使得电极(11)的梳齿部(13)与电极(12)的梳齿部(14)交替地平行排列,其梳齿部间隔S按照表示实际电容值与理想电容值之间的误差的绝对精度或它跟与之接近的梳状电容间的电容值之差的相对精度而不同。可提供具有确保高的电容精度的梳状电容的高精度模拟宏,及搭载有高集成模拟宏的半导体集成电路。
搜索关键词: 半导体 集成电路
【主权项】:
一种搭载多个具有梳状电容的模拟宏的半导体集成电路,其中,所述梳状电容具有梳状的第1电极和第2电极,所述梳状电容是所述第1电极与所述第2电极以所述第1电极的梳齿部和所述第2电极的梳齿部交替地平行排列的方式相咬合而形成的,该半导体集成电路的特征在于,作为所述模拟宏至少搭载有滤波器,在所述多个模拟宏的梳状电容中,所述滤波器的梳状电容具有比其它梳状电容宽的梳齿部间隔。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于松下电器产业株式会社,未经松下电器产业株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201110199616.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code