[发明专利]自动分析装置有效
申请号: | 201110204647.2 | 申请日: | 2008-02-27 |
公开(公告)号: | CN102305868A | 公开(公告)日: | 2012-01-04 |
发明(设计)人: | 圷正志 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立高新技术 |
主分类号: | G01N35/00 | 分类号: | G01N35/00 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 钟晶;於毓桢 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明为自动分析装置。本发明的自动分析装置具备:分析样品的分析单元;将样品架传送至所述分析单元的支架传送装置,该样品架载放保持所述样品的样品容器;将样品架投入到该支架传送装置的支架投入口;将精度管理试样以设置于所述样品架的状态来保持在装置内的机构;其特征在于,具备控制设备,其控制传送,以使得在识别到成为了规定时刻的时候,生成与保持在装置内的精度管理试样相应的规定的测定委托,分析所述精度管理试样。由此,如果操作者在事前准备精度管理试样,则能够根据外部的因素进行精度管理试样的分析,可以减少操作者的负担,并且在必须进行精度管理的适当的时期一定能够实现精度管理,可以自动维持测定精度。 | ||
搜索关键词: | 自动 分析 装置 | ||
【主权项】:
一种自动分析装置,其具备:分析样品的分析单元;将样品架传送至所述分析单元的支架传送装置,该样品架载放保持所述样品的样品容器;将样品架投入到该支架传送装置的支架投入口;将精度管理试样以设置于所述样品架的状态来保持在装置内的机构,其特征在于,具备控制设备,其控制传送,以使得在识别到成为了规定时刻的时候,生成与保持在装置内的精度管理试样相应的规定的测定委托,分析所述精度管理试样。
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