[发明专利]一种POP封装的SOC芯片DRAM输入/输出测试方法和装置有效
| 申请号： | 201110205287.8 | 申请日： | 2011-07-21 |
| 公开（公告）号： | CN102890970A | 公开（公告）日： | 2013-01-23 |
| 发明（设计）人： | 丁杰;鲍东山 | 申请（专利权）人： | 广东新岸线计算机系统芯片有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100084 北京市海淀区中关村*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种POP封装的SOC芯片DRAM输入/输出测试方法和装置，其基于IO的简单抽象，自然形成一个回路，使得DRAMIO在POP封装时的SOC测试成为可能；利用IOBIST模块，让测试结果通过GPIO输出到SOC底部，实现测试目的；本发明提出的测试方法和装置解决了POP封装时DRAMIO没有出在芯片下部而不能得到直接测试的问题，使得POP封装的SOC封装成本降低且速度加快。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 pop 封装 soc 芯片 dram 输入 输出 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种POP封装的SOC芯片DRAM输入/输出测试装置，其特征在于，包括：SOC芯片上与DRAM IO连接的内建自测模块IOBIST，所述IOBIST用于发送校验码到DRAM IO；所述IOBIST接收并核对返回后的校验码；通用输入/输出模块GPIO与IOBIST连接，所述GPIO用于判断校验码是/否相同，确定DRAM IO合格/故障。
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