[发明专利]一种用于CCD探测器制冷装置的温度控制系统有效
申请号: | 201110207201.5 | 申请日: | 2011-07-22 |
公开(公告)号: | CN102840724A | 公开(公告)日: | 2012-12-26 |
发明(设计)人: | 刘军;付彬 | 申请(专利权)人: | 北京中科美伦科技有限公司 |
主分类号: | F25B49/00 | 分类号: | F25B49/00;F25B21/02;H01L23/38 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 张大威 |
地址: | 100176 北京市亦庄*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种用于CCD探测器制冷装置的温度控制系统,包括温度传感器,实时地检测半导体制冷片的冷面的当前温度并输出温度指示信号;信号处理模块,对温度指示信号进行放大,并将放大后的温度指示信号进行模-数转换;控制模块,将半导体制冷片的冷面的当前温度与目标温度进行分析以得到开关控制信号;执行机构,选择性地将直流电源输出的直流电输送至半导体制冷片以调节半导体制冷片的冷面的温度位于预设温度区间内。本发明实现对CCD探测器制冷装置的温度的调节,使得CCD探测器制冷装置的温度控制在可控区间内的任一设定温度,从而减小了室内温度对制冷装置的温度的影响,提高了制冷装置的稳定性。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 ccd 探测器 制冷 装置 温度 控制系统 | ||
【主权项】:
一种用于CCD探测器制冷装置的温度控制系统,所述CCD探测器制冷装置包括直流电源和半导体制冷片,所述直流电源向所述半导体制冷片通入直流电以利用所述半导体制冷片的冷面对CCD探测器进行冷却,其特征在于,所述温度控制系统用于对所述半导体制冷片的冷面的温度进行控制,所述温度控制系统包括:温度传感器,所述温度传感器与所述半导体制冷片的冷面相连,用于实时地检测所述半导体制冷片的冷面的当前温度并输出温度指示信号;信号处理模块,所述信号处理模块与所述温度传感器相连,用于对所述温度指示信号进行放大,并将放大后的温度指示信号进行模拟‑数字转换以得到温度指示数字信号;控制模块,所述控制模块与所述信号处理模块相连,用于根据所述温度指示数字信号读取所述半导体制冷片的冷面的当前温度,并将所述半导体制冷片的冷面的当前温度与目标温度进行分析以得到开关控制信号;执行机构,所述执行机构位于所述直流电源和所述半导体制冷片之间,且所述执行机构与所述控制模块相连,用于在所述开关控制信号的驱动下选择性地将所述直流电源输出的直流电输送至所述半导体制冷片以调节所述半导体制冷片的冷面的温度位于预设温度区间内,其中所述预设温度区间为起始温度比所述目标温度降低第一预设温度,所述预设温度区间的结束温度比所述目标温度升高所述第一预设温度。
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