[发明专利]半导体元件及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201110215382.6 申请日: 2011-07-29
公开(公告)号: CN102903668A 公开(公告)日: 2013-01-30
发明(设计)人: 龙镜丞 申请(专利权)人: 华邦电子股份有限公司
主分类号: H01L21/768 分类号: H01L21/768;H01L23/522
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 汤保平
地址: 中国台湾台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种半导体元件及其制造方法。半导体元件的制造方法包括下列步骤。于衬底中形成多个沟道,其中各沟道具有第一侧壁及与第一侧壁相对的第二侧壁。于沟道中分别形成多个导体结构,各导体结构具有掺杂区,各掺杂区形成于各沟道的第一侧壁中。于衬底上顺应性地形成衬层以覆盖导体结构。进行掺质植入步骤,以使衬层形成改质部分及未改质部分。移除衬层的一部分以暴露出靠近沟道的第二侧壁处的部分导体结构。以剩余的衬层作为掩膜移除部分导体结构以形成多个开口。于开口中填入多个隔离结构。
搜索关键词: 半导体 元件 及其 制造 方法
【主权项】:
一种半导体元件的制造方法,包括:于一衬底中形成多个沟道,其中各所述沟道具有一第一侧壁及与该第一侧壁相对的一第二侧壁;于所述沟道中分别形成多个导体结构,各所述导体结构具有一掺杂区,各所述掺杂区形成于各所述沟道的该第一侧壁中;于该衬底上顺应性地形成一衬层,以覆盖所述导体结构;进行一掺质植入步骤,以使该衬层形成一改质部分以及一未改质部分;移除该衬层的一部分,以暴露出靠近所述沟道的所述第二侧壁处的部分所述导体结构;以剩余的该衬层作为掩膜,移除部分所述导体结构,以形成多个开口;以及于所述开口中填入多个隔离结构。
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