[发明专利]数据可压缩的低功耗集成电路测试装置及其方法

摘要

本发明公开了一种数据可压缩的低功耗集成电路测试装置及其方法，所述装置包括：扫描森林、异或门网络、输出选择电路、第一控制寄存器和第二控制寄存器；其中，所述扫描森林，包括多个扫描输入端和多个相互连接的扫描触发器组，所述扫描输入端连接第一个扫描触发器组中的所有扫描触发器，各扫描触发器组中的所有扫描触发器连接上一扫描触发器组中扫描触发器的输出端；所述异或门网络中的每个异或门的输入端与扫描森林的最后一组扫描触发器组中的扫描触发器输出端相连；所述输出选择电路连接异或门网络；本发明能够减少电路中结点的跳变，降低功耗，同时能够实现测试响应数据的压缩。

主权项

一种数据可压缩的低功耗集成电路测试装置，其特征在于，包括：扫描森林、异或门网络、输出选择电路、第一控制寄存器和第二控制寄存器；其中，所述扫描森林，包括多个扫描输入端和多个相互连接的扫描触发器组，所述扫描输入端连接第一个扫描触发器组中的所有扫描触发器，各扫描触发器组中的所有扫描触发器连接上一扫描触发器组中扫描触发器的输出端，所述多个扫描输入端对应多个扫描树，所述扫描树中的每个扫描触发器，与前一个扫描触发器的输出端连接，形成扫描链；所述异或门网络中的每个异或门的输入端与所述扫描森林的最后一组扫描触发器组中的扫描触发器输出端相连；所述输出选择电路连接所述异或门网络，用于选择每个时钟周期内需要观测的测试响应；所述第一控制寄存器，用于控制时钟屏蔽信号；所述第二控制寄存器，用于对所述输出选择电路进行控制。