[发明专利]半导体封装件及其制法无效

专利信息
申请号: 201110220509.3 申请日: 2011-07-29
公开(公告)号: CN102891130A 公开(公告)日: 2013-01-23
发明(设计)人: 黄君安;黄品诚;邱启新;邱世冠 申请(专利权)人: 矽品精密工业股份有限公司
主分类号: H01L23/498 分类号: H01L23/498;H01L21/60
代理公司: 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 代理人: 程伟;王锦阳
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种半导体封装件及其制法,该半导体封装件包括:具有焊垫的承载板;形成于该承载板上且具有对应该焊垫的开孔的封装层;填充于该开孔中的导电材;以及设于该封装层上的电子组件,其具有嵌入该导电材中的导电凸块。借由该封装层的开孔控制该导电材的位置及体积,使导电结构的整体高度得以保持平整,以避免电子组件倾斜。
搜索关键词: 半导体 封装 及其 制法
【主权项】:
一种半导体封装件,其包括:承载板,具有多个焊垫形成于其表面上;封装层,形成于该承载板表面上,且具有多个对应各该焊垫的开孔;导电材,填充于该开孔中,且电性连接该焊垫;以及电子组件,设于该封装层上,且该电子组件具有多个导电凸块,其中,各该导电凸块对应容置于各该开孔中以电性连接该导电材。
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