[发明专利]发光二极管组件的温度测量系统有效

专利信息
申请号: 201110225170.6 申请日: 2011-06-03
公开(公告)号: CN102359829A 公开(公告)日: 2012-02-22
发明(设计)人: S·杰克森;R·里克斯;B·佩尔顿;M·S·阿迈德;R·M·韦伯;M·E·莫斯托勒 申请(专利权)人: 泰科电子公司
主分类号: G01K7/00 分类号: G01K7/00
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 王冉
地址: 美国宾夕*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明提供用于发光二极管(LED)组件(10)的温度测量系统(100),所述组件包括具有在LED节点连接在一起的两个半导体的发光二极管(14),所述系统(100)包括在远离LED节点的远端可操作地连接至LED组件(10)的温度传感器(102)。温度传感器(102)配置为在远端测量LED组件(10)的温度。温度计算模块(106)可操作地连接至温度传感器(102),用于在远端从温度传感器(102)接收测量的温度。温度计算模块(106)配置为基于远端的测量温度,确定LED节点的节点温度。
搜索关键词: 发光二极管 组件 温度 测量 系统
【主权项】:
一种用于发光二极管组件(10)的温度测量系统(100),所述发光二极管组件包括具有在发光二极管节点(26)连接在一起的两个半导体(28,30)的发光二极管(14),所述温度测量系统(100)包括:在远离发光二极管节点(26)的远端可操作地连接至发光二极管组件(10)的温度传感器(102),温度传感器(102)配置为在所述远端测量发光二极管组件(10)的温度;和可操作地连接至温度传感器(102)的温度计算模块(106),用于在所述远端从温度传感器(102)接收测量的温度,温度计算模块(106)配置为基于所述远端的测量温度,确定发光二极管节点(26)的节点温度。
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