[发明专利]一种元器件定点开封的方法无效
申请号: | 201110251983.2 | 申请日: | 2011-08-30 |
公开(公告)号: | CN102426121A | 公开(公告)日: | 2012-04-25 |
发明(设计)人: | 纪强 | 申请(专利权)人: | 上海华碧检测技术有限公司 |
主分类号: | G01N1/28 | 分类号: | G01N1/28 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 200433 上海市杨*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供了一种元器件定点开封的方法,包括以下步骤:A、确认需要进行开封试验的元器件,确定元器件相应的芯片位置;B、使用单面带胶的铝箔纸将元器件紧密包裹起来,用小刀将需要开封位置上的铝箔纸切割取出;C、用吸管将调好的热混酸滴在元器件上切除了铝箔纸的塑封料上,直至芯片露出;D、将元器件放入丙酮溶液,将盛装丙酮溶液的容器放入到超声波清洗机中将被腐蚀的塑封料清洗除尽;E、揭去元器件表面的铝箔纸,并将元器件干燥。本发明方法步骤简单,操作方便,使用耗材少,降低了元器件开封的成本;本发明方法通过对元器件需要的位置进行开窗,可以保证元器件上引脚不受腐蚀,便于后续的电测工序。 | ||
搜索关键词: | 一种 元器件 定点 开封 方法 | ||
【主权项】:
一种元器件定点开封的方法,其特征在于:该方法包括以下步骤:A、确认需要进行开封试验的元器件,拍摄元器件的实物照片和X‑ray照片,根据照片确定元器件相应的芯片位置;B、使用单面带胶的铝箔纸将元器件紧密包裹起来,用小刀将需要开封位置上的铝箔纸切割取出;C、用吸管将调好的热混酸滴在元器件上切除了铝箔纸的塑封料上,直至芯片露出;D、将元器件放入丙酮溶液,将盛装丙酮溶液的容器放入到超声波清洗机中进行清洗,直至元器件表面被腐蚀的塑封料除尽;E、揭去元器件表面的铝箔纸,并将元器件干燥。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海华碧检测技术有限公司,未经上海华碧检测技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201110251983.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:预防超低介电常数薄膜损伤的方法
- 下一篇:飞机数字调平技术及方法