[发明专利]半导体存储器件及其控制方法有效
| 申请号： | 201110252163.5 | 申请日： | 2008-07-17 |
| 公开（公告）号： | CN102385538A | 公开（公告）日： | 2012-03-21 |
| 发明（设计）人： | 菅野伸一;内川浩典 | 申请（专利权）人： | 株式会社东芝 |
| 主分类号： | G06F11/10 | 分类号： | G06F11/10 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 高青 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 公开了一种半导体存储器件及其控制方法，该半导体存储器件包括：半导体存储器，被配置为非易失性地存储多个检测码、多个第一校正码、第二校正码以及第二数据块，第一数据块中的每一个包含数据项之一和相应的检测码，第二数据块包括第一数据块；第一校正器，被配置为使用第一校正码来校正第一数据块中的错误；检测器，被配置为使用所述检测码来检测由第一校正器校正的数据项中的错误，并产生表示在每个已校正的数据项中存在/不存在错误的第一错误信息；和第二校正器，被配置为使用第一错误信息和第二校正码，来校正已校正的数据项当中包括错误的若干个数据项中的错误，其中，第二校正码的纠错能力高于第一校正码的纠错能力。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 存储 器件 及其 控制 方法 | ||
【主权项】：
一种半导体存储器件，包括：半导体存储器，被配置为非易失性地存储用于检测多个数据项中的错误的多个检测码、用于校正多个第一数据块中的错误的多个第一校正码、用于校正第二数据块中的错误的第二校正码、以及所述第二数据块，所述第一数据块中的每一个包含数据项之一和相应的检测码，所述第二数据块包括所述第一数据块；第一校正器，被配置为使用第一校正码来校正第一数据块中的错误；检测器，被配置为使用所述检测码来检测由第一校正器校正的数据项中的错误，并产生表示在每个已校正的数据项中存在/不存在错误的第一错误信息；和第二校正器，被配置为使用第一错误信息和第二校正码，来校正已校正的数据项当中包括错误的若干个数据项中的错误，其中，第二校正码的纠错能力高于第一校正码的纠错能力。
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