[发明专利]鳍式场效应管的结构及形成方法有效
申请号: | 201110252702.5 | 申请日: | 2011-08-30 |
公开(公告)号: | CN102956701A | 公开(公告)日: | 2013-03-06 |
发明(设计)人: | 三重野文健 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L21/336 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 骆苏华 |
地址: | 201203 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明实施例提供了一种鳍式场效应管的形成方法,包括:提供基底;依次形成位于所述基底表面的硅薄膜、硬掩膜层、具有第一开口的图案层和覆盖所述第一开口的侧壁的侧墙;以所述侧墙为掩膜刻蚀所述硬掩膜层和硅薄膜,形成第二开口;在所述第二开口内形成应力层,所述应力层的表面至少与所述硅薄膜的表面齐平;形成位于所述应力层表面、且位于所述第二开口内的保护层;去除所述图案层;在去除所述图案层之后,形成与所述侧墙相对应的两个子鳍部。本发明实施例还提供了一种采用上述形成方法形成的鳍式场效应管,所述鳍式场效应管的沟道区内的载流子迁移率高,驱动电流大,器件性能好。 | ||
搜索关键词: | 场效应 结构 形成 方法 | ||
【主权项】:
一种鳍式场效应管的结构,包括:基底;其特征在于,还包括:位于所述基底表面鳍部,所述鳍部包括两个位于所述基底表面、且相互分立的子鳍部,及位于两个子鳍部之间且与所述子鳍部接触的应力层,所述应力层的表面与所述子鳍部的表面齐平。
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