[发明专利]鳍式场效应管的结构及形成方法有效

专利信息
申请号: 201110252702.5 申请日: 2011-08-30
公开(公告)号: CN102956701A 公开(公告)日: 2013-03-06
发明(设计)人: 三重野文健 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L21/336
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 骆苏华
地址: 201203 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明实施例提供了一种鳍式场效应管的形成方法,包括:提供基底;依次形成位于所述基底表面的硅薄膜、硬掩膜层、具有第一开口的图案层和覆盖所述第一开口的侧壁的侧墙;以所述侧墙为掩膜刻蚀所述硬掩膜层和硅薄膜,形成第二开口;在所述第二开口内形成应力层,所述应力层的表面至少与所述硅薄膜的表面齐平;形成位于所述应力层表面、且位于所述第二开口内的保护层;去除所述图案层;在去除所述图案层之后,形成与所述侧墙相对应的两个子鳍部。本发明实施例还提供了一种采用上述形成方法形成的鳍式场效应管,所述鳍式场效应管的沟道区内的载流子迁移率高,驱动电流大,器件性能好。
搜索关键词: 场效应 结构 形成 方法
【主权项】:
一种鳍式场效应管的结构,包括:基底;其特征在于,还包括:位于所述基底表面鳍部,所述鳍部包括两个位于所述基底表面、且相互分立的子鳍部,及位于两个子鳍部之间且与所述子鳍部接触的应力层,所述应力层的表面与所述子鳍部的表面齐平。
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