[发明专利]半导体装置的测试模式控制电路及其控制方法有效
| 申请号： | 201110291078.X | 申请日： | 2011-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN102540057A | 公开（公告）日： | 2012-07-04 |
| 发明（设计）人： | 尹泰植;李锺天 | 申请（专利权）人： | 海力士半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/317 | 分类号： | G01R31/317 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人： | 郭放;许伟群 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本发明公开一种半导体装置的测试模式控制电路及相关方法的各个实施例。在一个示例性实施例中，测试模式控制电路可以包括：测试模式控制模块，测试模式控制模块被配置成响应于顺序输入的第一地址信号组和第二地址信号组而产生多个控制信号组；测试模式传送模块，测试模式传送模块被配置成将根据所述多个控制信号组的组合所产生的多个测试模式信号传送至半导体装置的多个电路模块；以及多个全局线，所述多个全局线被配置成将所述多个控制信号组传送至测试模式传送模块。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 装置 测试 模式 控制电路 及其 控制 方法 | ||
【主权项】：
一种半导体装置的测试模式控制电路，包括：测试模式控制模块，所述测试模式控制模块被配置成响应于顺序输入的第一地址信号组和第二地址信号组而产生多个控制信号组；测试模式传送模块，所述测试模式传送模块被配置成将根据所述多个控制信号组的组合所产生的多个测试模式信号传送至所述半导体装置的电路模块；以及多个全局线，所述多个全局线被配置成将所述多个控制信号组传送至所述测试模式传送模块。
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