[发明专利]半导体装置和数据处理方法有效

专利信息
申请号: 201110307886.0 申请日: 2011-10-12
公开(公告)号: CN102651229A 公开(公告)日: 2012-08-29
发明(设计)人: 文眞永 申请(专利权)人: 海力士半导体有限公司
主分类号: G11C7/10 分类号: G11C7/10;G11C7/22
代理公司: 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 代理人: 郭放;许伟群
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 提供了一种半导体装置和数据处理方法。所述半导体装置包括:总线反转信息DBI处理单元,被配置成当接收多比特数据、计算数据的DBI信息并输出多个DBI标志信号时,产生所述多个DBI标志信号使得每个DBI标志信号反映出数据的预定比特的DBI信息;第一循环冗余校验CRC处理单元,被配置成使用多比特数据和在所述多个DBI标志信号中计算出的部分DBI标志信号来计算CRC信息并输出多个CRC信号;以及第二CRC处理单元,被配置成使用所述多个CRC信号和在所述多个DBI标志信号中计算出的其余DBI标志信号来输出CRC码。
搜索关键词: 半导体 装置 数据处理 方法
【主权项】:
一种半导体装置,包括总线反转信息DBI处理单元,所述DBI处理单元被配置成当接收多比特数据、计算所述数据的DBI信息并输出多个DBI标志信号时,产生所述多个DBI标志信号使得每个DBI标志信号反映出所述数据的预定比特的DBI信息;第一循环冗余校验CRC处理单元,所述第一CRC处理单元被配置成使用所述多比特数据和在所述多个DBI标志信号中计算出的部分DBI标志信号来计算CRC信息并输出多个CRC信号;以及第二CRC处理单元,所述第二CRC处理单元被配置成使用所述多个CRC信号和在所述多个DBI标志信号中计算出的其余DBI标志信号来输出CRC码。
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