[发明专利]一种微电信运算架构的电路测试装置及方法有效

专利信息
申请号: 201110308426.X 申请日: 2011-10-12
公开(公告)号: CN102385034A 公开(公告)日: 2012-03-21
发明(设计)人: 蒋政;曾维;周世欣 申请(专利权)人: 京信通信系统(中国)有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 代理人: 郭红丽
地址: 510663 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种微电信运算架构的电路测试装置及方法,通过将微电信运算架构的主控板和/或先进子卡竖向插入所述电路测试装置对外的插槽,并利用所述电路测试装置来模拟先进子卡和/或主控板,通过模拟的先进子卡和/或主控板分别与当前插入的主控板和/或先进子卡之间建立链路,可方便地对插入的主控板和/或先进子卡进行功能测试,由于该电路测试装置对外的插槽没有机箱的阻隔,因此,可以方便地使用信号测试仪对插入的主控板和/或先进子卡进行信号完整性测试,且无需多次插拔先进子卡,避免了先进子卡的金手指可靠性下降的问题,以及无需同时插入大量的先进子卡,从而简化了测试过程。
搜索关键词: 一种 电信 运算 架构 电路 测试 装置 方法
【主权项】:
一种微电信运算架构的电路测试装置,其特征在于,包括:用于插入主控板MCH的主控板插槽和用于插入先进子卡AMC的先进子卡插槽;模拟PM单元,用于为插入主控板插槽的MCH以及插入先进子卡插槽的AMC提供电源,并通知处理单元;处理单元,用于根据模拟PM单元的通知,在确定当前插入MCH时,模拟AMC与插入的MCH建立用于测试的链路,以及在确定当前插入AMC时,模拟MCH与插入的AMC建立用于测试的链路。
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