[发明专利]光刻装置和器件制造方法有效
申请号: | 201110314135.1 | 申请日: | 2005-10-18 |
公开(公告)号: | CN102323727A | 公开(公告)日: | 2012-01-18 |
发明(设计)人: | J·-G·C·范德托尔恩;C·A·胡根达姆 | 申请(专利权)人: | ASML荷兰有限公司 |
主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 王波波 |
地址: | 荷兰维*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | 光刻装置和器件制造方法,例如为了在不同基底的曝光之间方便地移动基底,使用致动的封闭板提供基底,基底台或上述两者作为限制液体的光刻装置中的空间边界的一部分,而不会例如破坏限制液体的密封。 | ||
搜索关键词: | 光刻 装置 器件 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种光刻投影装置,包括:配置成保持基底的基底台;配置成把带图案的辐射光束投影到基底上的投影系统;液体限制结构,所述液体限制结构被配置成把液体限制在空间中,所述空间为投影系统与基底、基底台或上述两者之间的空间,基底、基底台或上述两者配置成形成所述空间的边界的一部分;以及致动的封闭板,该封闭板配置成当基本上未扰动液体、液体限制结构或上述两者而移动时,替代基底、基底台或上述两者构成所述空间的边界的一部分,其中,所述封闭板被定位或成形以使得致动的封闭板的顶面大体上与基底台处于相同的高度,使得当基底台远离投影系统下方的位置移动时,可以进行连续的、没有干扰的移动,同时保持使液体包含在液体限制结构中的密封,在用干涉计测量光束的过程中不挡住干涉计装置的任何干涉计光束;其中,所述致动的封闭板和所述基底台设置为当所述致动的封闭板水平地移动到投影系统下方的位置从而替换所述基底台,所述基底台被构造并且设置为水平地远离投影系统下方的位置。
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