[发明专利]电工电子产品低温试验能力验证的方法及其装置有效
| 申请号： | 201110331154.5 | 申请日： | 2011-10-27 |
| 公开（公告）号： | CN102494708A | 公开（公告）日： | 2012-06-13 |
| 发明（设计）人： | 钟志刚;朱珈;刘宗航;王秀芳;竹利平;王珊珊;陈钧;陈伟升;刘国荣 | 申请（专利权）人： | 广州威凯检测技术有限公司 |
| 主分类号： | G01D18/00 | 分类号： | G01D18/00 |
| 代理公司： | 广州知友专利商标代理有限公司 44104 | 代理人： | 宣国华 |
| 地址： | 510663 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： |
本发明公开了一种电工电子产品低温试验能力验证的方法及其装置，所述方法包括如下步骤：1)预设温度检测装置的动作温度点，要求温度检测装置的感温介质温度变化速率≤1℃/min，将温度检测装置的温度感应装置放入待验证装置内部，开启待验证装置操作降温；2）当温度检测装置检测到待验证装置的内部温度下降到上述预设的动作温度点时，记录待验证装置此时的内部温度值，即记录待验证装置温度值；3）计算上述待验证装置温度的Z值， |
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| 搜索关键词： | 电工 电子产品 低温 试验 能力 验证 方法 及其 装置 | ||
【主权项】：
1.一种电工电子产品低温试验能力验证的方法，其特征在于，包括以下步骤：1) 预设温度检测装置的动作温度点，要求温度检测装置的感温介质温度变化速率≤1℃/min，将温度检测装置的温度感应装置放入待验证装置内部，开启待验证装置操作降温；2）当温度检测装置检测到待验证装置的内部温度下降到上述预设的动作温度点时，记录待验证装置此时的内部温度值，即记录待验证装置温度值；3）计算上述待验证装置温度的Z值，![]()
，当![]()
时，判断待验证装置低温试验能力合格。
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