[发明专利]碘化铯和掺铊碘化铯单晶的坩埚下降法生长工艺有效

专利信息
申请号: 201110340816.5 申请日: 2011-11-02
公开(公告)号: CN102383195A 公开(公告)日: 2012-03-21
发明(设计)人: 唐华纯;李国荣;曹家军;吴中元 申请(专利权)人: 上海御光新材料科技有限公司
主分类号: C30B29/12 分类号: C30B29/12;C30B11/00
代理公司: 上海光华专利事务所 31219 代理人: 许亦琳;余明伟
地址: 201807 上海*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供了一种纯碘化铯及掺铊碘化铯单晶的坩埚下降法生长工艺,首先对原料进行脱羟、烘干预处理,以消除其中的OH-及吸附水和结晶水;烘干后将原料装入镀有碳膜的石英坩埚中抽真空密封;然后在内部设置有高、中、低三个温度区的下降炉内实现晶体生长,下降速度为1.5~3.0mm/h,晶体生长界面温度梯度为30±2℃/cm。所用的生长炉结构简单,操作方便,炉膛内部温度梯度可调节,同时由于炉内多个等效工位可同时生长多根晶体,降低晶体成本,非常适合规模生产等特点。本发明所生长的碘化铯晶体适用于安全检查及核医学成像等应用领域。
搜索关键词: 碘化 铯单晶 坩埚 下降 生长 工艺
【主权项】:
一种碘化铯单晶的坩埚下降法生长工艺,包括以下步骤:1)将原料碘化铯于195~205℃脱OH 后,真空干燥,然后装入坩埚内抽真空并密封;2)将装料后的坩埚置于下降炉中,进行熔料,控制熔料温度为700~750℃;熔料结束后开始晶体生长,使坩埚匀速向下移动并通过下降炉内温度为600~650℃的区域,下降速度为1.5~3.0mm/h,晶体生长界面温度梯度为28~32℃/cm;晶体生长结束后,以30~50℃/h的速率降温至室温;取出坩埚,将晶体从坩埚中剥离,得到碘化铯单晶。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海御光新材料科技有限公司,未经上海御光新材料科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201110340816.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top