[发明专利]静电场干扰测试装置与其方法有效
申请号: | 201110347783.7 | 申请日: | 2011-11-07 |
公开(公告)号: | CN103091574A | 公开(公告)日: | 2013-05-08 |
发明(设计)人: | 锺文超;郑钦隆;魏嘉亨;熊岳鹏 | 申请(专利权)人: | 纬创资通股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 冯志云;吕俊清 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种静电场干扰测试装置与其方法,其静电场干扰测试装置包括静电放电产生器与导电件。导电件邻近于静电放电产生器的输出端并电连接于接地端。当静电放电产生器对导电件进行空气放电时,导电件会因为瞬间电流而产生一测试电磁场,此测试电磁场可以用来测试待测组件对静电场强的防护能力。 | ||
搜索关键词: | 静电场 干扰 测试 装置 与其 方法 | ||
【主权项】:
一种静电场干扰测试装置,包括:一静电放电产生器,具有一输出端;以及一导电件,该导电件由导体形成且电连接至一接地端;其中该导电件邻近于该输出端,用以在该静电放电产生器对该导电件进行空气放电时产生一测试电磁场。
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