[发明专利]一种光学式触控屏的调试方法有效

专利信息
申请号: 201110350629.5 申请日: 2011-11-08
公开(公告)号: CN102339174A 公开(公告)日: 2012-02-01
发明(设计)人: 毛昭凯;张皓崴 申请(专利权)人: 苏州佳世达电通有限公司;佳世达科技股份有限公司
主分类号: G06F3/042 分类号: G06F3/042
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 常亮;李辰
地址: 215011 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明是一种光学式触控屏的调试方法,包括步骤:1)动态校对相邻两个光源模组的最佳边界;2)以所述最佳边界为判断位置,对所述相邻两个光源模组的发光功率进行调试,使该相邻两个光源模组在该最佳边界处的发光强度相同;3)记录步骤2)之后该相邻两个光源模组的发光曲线,对该发光曲线做一致化处理,使光学感测模组的感光强度均匀化。该调试方法由于增加了对相邻的光源模组之间的最佳边界的调试,从而避免了光源模组之间的间隙因环境或组装时产生的改变而使得某一侧的光源duty过高。同时,也避免了因某一侧的光源duty过高导致的一致性变差。
搜索关键词: 一种 光学 式触控屏 调试 方法
【主权项】:
一种光学式触控屏的调试方法,所述光学式触控屏包括至少2个光学感测模组、多个光源模组以及由该多个光源模组围成的触控区,其特征在于:所述调试方法包括步骤:1)动态校对相邻两个光源模组的最佳边界;2)以所述最佳边界为判断位置,对所述相邻两个光源模组的发光功率进行调试,使该相邻两个光源模组在该最佳边界处的发光强度相同;3)记录步骤2)之后该相邻两个光源模组的发光曲线,对该发光曲线做一致化处理,使光学感测模组的感光强度均匀化,所述步骤1)中的校对过程包括如下步骤:1.1)以相同校对发光功率先后开启所述相邻两个光源模组;1.2)搜寻该两个光源模组发光曲线的交接点;1.3)记录该交接点在光学感测模组上的感测位置,该感测位置即为最佳边界。
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