[发明专利]测试模式设定电路无效
| 申请号： | 201110375689.2 | 申请日： | 2011-11-23 |
| 公开（公告）号： | CN102478627A | 公开（公告）日： | 2012-05-30 |
| 发明（设计）人： | 杉浦正一;五十岚敦史 | 申请（专利权）人： | 精工电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 李辉;黄纶伟 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种端子数少的测试模式设定电路。该测试模式设定电路构成为：在控制半导体装置的测试模式的测试端子上，设置有低阈值电压的检测器和高阈值电压的检测器，通过低阈值电压的检测器来解除逻辑电路的复位，通过高阈值电压的检测器对测试模式进行切换控制。因此，测试端子、复位端子和测试模式控制端子是共用的，能够大幅减少端子数。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 模式 设定 电路 | ||
【主权项】：
一种测试模式设定电路，其控制半导体装置的测试模式，其特征在于，该测试模式设定电路具有：具有第1阈值电压的第1检测器，其输入端子与测试端子连接；具有第2阈值电压的第2检测器，其输入端子与所述测试端子连接；以及逻辑电路，其第1输入端子与所述第1检测器的输出端子连接，第2输入端子与所述第2检测器的输出端子连接，该逻辑电路根据所述第1检测器及第2检测器的输出信号，控制所述半导体装置的测试模式，在所述测试端子的电压从第1电源的电压超过所述第1检测器的第1阈值电压时，所述逻辑电路被解除复位，将所述半导体装置设定为测试模式，在所述半导体装置处于测试模式的情况下，当所述测试端子的电压超过所述第2检测器的第2阈值电压时，所述逻辑电路对所述测试模式的模式设定进行切换控制。
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