[发明专利]基于X射线荧光直接测定平板玻璃基板化学组分的方法有效
| 申请号： | 201110401623.6 | 申请日： | 2011-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN103149230A | 公开（公告）日： | 2013-06-12 |
| 发明（设计）人： | 李兆廷;王俊明;杨忠杰;付冬伟;刘文渊;闫雪峰;韦泽光 | 申请（专利权）人： | 郑州旭飞光电科技有限公司;东旭集团有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223;G01N1/28 |
| 代理公司： | 郑州中原专利事务所有限公司 41109 | 代理人： | 张春 |
| 地址： | 450016 河南省郑*** | 国省代码： | 河南;41 |
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| 摘要： | 本发明涉及仪器检测分析技术领域，具体涉及一种基于X射线荧光直接测定平板玻璃基板化学组分的方法，测定步骤包括：（1）平板玻璃基板化学组分的X射线荧光熔融法制样测定；（2）利用步骤（1）中测定的组分含量的平板玻璃基板建立相应组分的X射线荧光平板法测定的校准曲线；（3）利用步骤（2）建立的玻璃平板测定校准曲线对组分相似或相近的平板玻璃基板试样直接进行组分测定。本发明的特点在于通过X射线荧光平板法测试校准曲线的建立，可以实现对平板玻璃基板样品组分的直接测定与监控，无需对样品再进行破碎、研磨、熔融法制样或压片法制样等繁琐处理步骤，避免了熔融法或压片法制样测定等过程引入的人为误差，平板法直接测定方式简单、准确、节能、环保。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 射线 荧光 直接 测定 平板玻璃 化学 组分 方法 | ||
【主权项】：
一种基于X射线荧光直接测定平板玻璃基板化学组分的方法，测定步骤包括：（1）平板玻璃基板化学组分的X射线荧光熔融法制样测定；（2）利用步骤（1）中测定的组分含量的平板玻璃基板建立相应组分的X射线荧光平板法测定的校准曲线；（3）利用步骤（2）建立的玻璃平板测定校准曲线对组分相似或相近的平板玻璃基板试样直接进行组分测定。
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