[发明专利]一种测试电子产品关机温度的系统和方法有效
申请号: | 201110440540.8 | 申请日: | 2011-12-26 |
公开(公告)号: | CN103176071A | 公开(公告)日: | 2013-06-26 |
发明(设计)人: | 宫清;宋以鹰;叶迪峰;吴知东 | 申请(专利权)人: | 比亚迪股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518118 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提供了一种测试电子产品关机温度的系统,包括控制器、温控箱、置于温控箱中的被测试部件、及给被测试部件供电的电源,所述控制器控制温控箱的温度及电源的开关;还包括继电器,所述被测试部件包括用于启动该测试部件的常开触点开关,所述继电器的常开触点与所述常开触点开关并联,所述继电器的线圈绕组串联在电源回路中,所述控制器控制电源给继电器供电。本发明通过继电器的导通来开启被测试部件,从而可以在被测试部件由于受温差影响导致其不正常关机时,可以重启被测试部件并监控其运行情况,以此来确定测试结果是否精确。 | ||
搜索关键词: | 一种 测试 电子产品 关机 温度 系统 方法 | ||
【主权项】:
一种测试电子产品关机温度的系统,包括控制器(1)、温控箱(2)、置于温控箱(2)中的被测试部件(3)、及给被测试部件(3)供电的电源(4),所述控制器(1)控制温控箱(2)的温度及电源(4)的开关;其特征在于:还包括继电器(5),所述被测试部件(3)包括用于启动该测试部件的常开触点开关,所述继电器(5)的常开触点与所述常开触点开关并联,所述继电器(5)的线圈绕组串联在电源(4)回路中,所述控制器(1)控制电源(4)给继电器(5)供电。
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