[实用新型]多轴多转向测试设备无效

专利信息
申请号: 201120051306.1 申请日: 2011-03-01
公开(公告)号: CN202083775U 公开(公告)日: 2011-12-21
发明(设计)人: 陈志明 申请(专利权)人: 东莞矽德半导体有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 东莞市中正知识产权事务所 44231 代理人: 鲁慧波
地址: 523000 *** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型涉及一种多轴多转向测试设备,包括有一测试载盘模块,设有复数个可容纳芯片的承座;一夹持单元模块,包括一压合盖及一承载座,所述测试载盘夹持固定于该压合盖与承载座之间;一第一转向模块,其设有第一动力装置、第一传动装置及一框架,第一传动装置与框架枢接,该框架内枢接着前述夹持单元模块;以及一第二转向模块,设置于前述框架外壁,包括第二动力装置及第二传动装置,该第二传动装置与前述夹持单元模块枢接,所述第一传动装置之转动轴与第二传动装置之转动轴不平行。本实用新型能够一次对复数芯片进行多轴向翻转测试,并可避免连接线交错混杂的问题。
搜索关键词: 多轴多 转向 测试 设备
【主权项】:
一种多轴多转向测试设备,其特征在于,包括有:一测试载盘模块,设有复数个可容纳芯片的承座;一夹持单元模块,包括一压合盖及一承载座,所述测试载盘夹持固定于该压合盖与承载座之间;一第一转向模块,其设有第一动力装置、第一传动装置及一框架,第一传动装置与框架枢接,该框架内枢接着前述夹持单元模块;以及一第二转向模块,设置于前述框架外壁,包括第二动力装置及第二传动装置,该第二传动装置与前述夹持单元模块枢接,所述第一传动装置之转动轴与第二传动装置之转动轴不平行。
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